電子萬能試驗(yàn)機(jī)數(shù)據(jù)采集速率太低
作者 Kaikai
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發(fā)布時間 14/01/09
目前模擬信號的數(shù)據(jù)采集是通過A/D轉(zhuǎn)換器來實(shí)現(xiàn)的。A/D轉(zhuǎn)換器的種類很多，但在電子萬能試驗(yàn)機(jī)上采用最多的是∑-△型A/D轉(zhuǎn)換器。這類轉(zhuǎn)換器使用靈活，轉(zhuǎn)換速率可動態(tài)調(diào)整，既可實(shí)現(xiàn)高速低精度的轉(zhuǎn)換，又可實(shí)現(xiàn)低速高精度的轉(zhuǎn)換。 但在某些廠家生產(chǎn)的電子萬能試驗(yàn)機(jī)上，為了追求較高的采樣分辨率，以及極高的數(shù)據(jù)顯示穩(wěn)定性，而將采樣速度降的很低，這是不可取的。因?yàn)楫?dāng)采樣速度很低時，對高速變化的信號就無法實(shí)時準(zhǔn)確采集。例如金屬材料性能試驗(yàn)中，當(dāng)材料發(fā)生屈服而力值上下波動時 信號變化就是如此，以至于不能準(zhǔn)確求出上下屈服點(diǎn)，導(dǎo)致試驗(yàn)失敗，結(jié)果丟了西瓜撿芝麻。 一般情況下，電子萬能試驗(yàn)機(jī)對采集速率并沒有太高的要求。只需要達(dá)到每秒幾十次到幾百次既可以滿足需求。但是有時候需要進(jìn)行較低的轉(zhuǎn)換速率，以實(shí)現(xiàn)較高的測量精度。 |